뛰어난 성능과 다양한 기능, 사용 편의성 최신 시스템의 다양한 신호를 테스트 하는 것은 복잡하고 어렵게 느껴집니다. 12개의 표준 파형, 임의 파형 기능, 신호 감쇠 옵션을 갖춘 AFG3000C 임의/함수 발생기 시리즈는 단일 측정 장비에서 많이 사용되는 매우 다양한 애플리케이션을 지원합니다. 동급 최고의 성능으로 신호의 정확한 재현을 보장합니다. AFG3000C 임의/함수 발생기 시리즈는 대형 디스플레이가 설치되어 있고 25개의 바로 가기 키가 제공되어 사용하기가 매우 쉽습니다.
※ AFG3000C 임의 / 함수 발생기 시리즈 모델: | 모델 | 아날로그 채널 | 출력 주파수 | 레코드 길이 | 최대 샘플링 속도 | 수직해상도 | 진폭범위 (50옴부하시) |
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| AFG3021C | 1 | 25 MHz | 128 K | 2K-128K: 250MS/s | 14 bits | 10 Vp-p | | AFG3022C | 2 | 25 MHz | 128 K | 2K-128K: 250MS/s | 14 bits | 10 Vp-p | | AFG3051C | 1 | 50 MHz | 128 K | >16K-128K: 250MS/s;
2K-16K: 1GS/s | 14 bits | 10 Vp-p | | AFG3052C | 2 | 50 MHz | 128 K | >16K-128K: 250MS/s;
2K-16K: 1GS/s | 14 bits | 10 Vp-p | | AFG3011C | 1 | 10 MHz | 128 K | 2K-128K: 250MS/s | 14 bits | 20 Vp-p | | AFG3101C | 1 | 100 MHz | 128 K | >16K-128K: 250MS/s;
2K-16K: 1GS/s | 14 bits | 10 Vp-p | | AFG3102C | 2 | 100 MHz | 128 K | >16K-128K: 250MS/s;
2K-16K: 1GS/s | 14 bits | 10 Vp-p | | AFG3251C | 1 | 240 MHz | 128 K | >16K-128K: 250MS/s;
2K-16K: 2GS/s | 14 bits | 5 Vp-p | | AFG3252C | 2 | 240 MHz | 128 K | >16K-128K: 250MS/s;
2K-16K: 2GS/s | 14 bits | 5 Vp-p |
※ 개요 | 특징 | 장점 |
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| 듀얼 채널 모델 | 두 개의 신호 발생기 대신 두 개로 정밀하게 동기화되거나 두 개로 완전히 분리된 신호를 사용하는 단일 장비로 대체함으로써 비용과 작업 공간을 절약할 수 있습니다. | | 최대 2GS/s의 샘플링 속도 | 파형을 세밀한 타이밍 해상도로 생성합니다. | 최대 20Vp-p 변조를 50Ω 부하에 입력(AFG3011) | 외부 전력 증폭기를 사용하지 않고 높은 변조 신호를 생성하여 비용과 설치 시간을 절약할 수 있습니다. | | 25개의 단축키 | 자주 사용하는 기능 및 파라미터에 바로 액세스하여 설치 및 검증 테스팅 시간을 확연하게 줄일 수 있습니다. | 대형 5.6인치(142mm) 컬러 디스플레이 | 모든 관련 설정 및 파형 그래프를 한 눈에 볼 수 있어 자신 있게 신호를 확인할 수 있습니다. | | 약 6.6인치(168mm)의 폭 | 작업 공간을 절약할 수 있습니다. | | ArbExpress™ 소프트웨어 | 파형을 쉽게 생성 및 수정할 수 있고 사용자의 텍트로닉스 오실로스코프에서 원활하게 파형을 가져올 수 있을 뿐만 아니라 수식 에디터, 자유 곡선(free hand), 포인트 곡선(point draw) 또는 파형 연산 등에서 파형을 정의할 수 있습니다. |
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